HAST试验，也称为高加速温度和湿度应力测试（Highly Accelerated Stress Test）或高压蒸煮测试，是一种模拟产品在高温高湿环境下使用条件的试验方法。它通过增加测试室内的水蒸气压至高于测试样品内部水蒸气分压的高水平，来评估测试样品的防潮性。

HAST试验的基本原理是将电子产品置于高温、高湿、高盐雾和高应力的环境下，模拟产品在实际使用中可能遇到的极端条件，从而加速产品的老化过程，评估产品在短时间内失效的风险。这种测试方法广泛应用于各种电子产品领域，包括但不限于电子元器件、集成电路、平板电脑、手机、电视、汽车电子等。

HAST试验的测试条件通常包括高温（一般为110°C至130°C）和高湿度（相对湿度通常超过85%）。与高温/高湿测试（85°C/85% RH）相比，HAST试验会因湿气驱动的腐蚀而导致更多的组件接触，并且绝缘性能下降更多。HAST试验主要用于塑料密封部件，以评估其防潮性和可靠性。

在进行HAST试验时，需要根据产品的特性和应用环境，确定相应的温度、湿度、盐雾、机械应力等测试条件，并按照一定的步骤和方法进行测试。通过HAST试验，可以全面评估产品在各种恶劣环境下的性能表现和可靠性，为产品的设计、生产和应用提供有力保障。