金属陶瓷电位器导电层失效分析 第三方工业诊断技术服务中心
实验室失效分析常用手段有外观检查、X射线透视检查、CT无损检测、切片分析、超声波扫描显微镜、显微红外分析、扫描电子显微镜分析和X射线能谱分析、光电子能谱(XPS)分析、热点定位分析、芯片开封、FIB聚焦离子束制样测试、压降测试、电性能测试、红墨水试验、可焊性分析、红外光谱分析等手段。
检测内容
电位器造成接触不良的主要原因如下:
(1)接触压力太小、簧片应力松弛、滑动接点偏离轨道或导电层、机械装配不当,又或很大的机械负荷(如碰撞、跌落等)导致接触簧片变形等。
(2)导电层或接触轨道因氧化、污染,而在接触处形成各种不导电的膜层。
(3)导电层或电阻合金线磨损或烧毁,致使滑动点接触不良。
质海检测失效分析流程:
1、客户提供失效背景描述,填写失效分析委托单。
2、实验室工程师对案件可行性进行评估。
3、业务员提供报价单给客户。
4、签约付款。
5、客户寄样。
6、实验室进行分析。
7、提供报告,答疑。
8、开具发票。
9、该失效分析案件结束。
检测标准
产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
/ | / | 失效分析 |
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