透射电镜 TEM测试报告 FIB+TEM第三方检测机构

透射电镜测试项目

非磁形貌，非磁形貌+高分辨，非磁选区衍射，非磁点扫，非磁线扫，非磁mapping，非磁Stem-haddf

透射电镜测试仪器型号

FEI Tecnai F20, TF30，JEOL JEM 2100F，FEI Talos F200X

透射电镜测试样品需求

粉体需5mg左右，无磁性单颗粉末尺寸小于1μm；

液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；

（浓度有特殊要求请备），可以自己制样。

透射电镜测试应用范围

1. 对金属、陶瓷、半导体、塑料、纳米颗粒等各种材料进行超微结构观察；

2. 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察；

3. 选区电子衍射和晶体结构分析；

4. 配合能谱仪可对样品元素进行点、线、面分析；

透射电镜测试流程

1、沟通需求：了解待检测项目，确定检测范围；

2、报价：根据检测项目及检测需求进行报价；

3、签约：签订合同及保密协议，开始检测；

4、完成检测：检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，具体可咨询检测顾问；

5、出具检测报告，进行后期服务；