什么是高加速寿命测试？

HALT（高加速寿命测试）：是一种发现设计缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加速环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，z大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而从暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。

范围：

1.电脑及其周边设备，例如：笔记本电脑，显示器，鼠标，键盘等。

2.家用电器，例如：洗衣机，冰箱，空调，抽油烟机等。

3.照明设备，例如：LED灯，投光灯，手提灯，路灯等；

4.其他设备，例如：包装机器，包装箱，包装木箱，金属材料等。

标准：

GB/T 34986-2017